010-87681080
010-87681080
产品中心
PRODUCTS CNTER
产品简介
封装性共面性测试仪在芯片制造过程中，芯片引脚扮演着连接内部电路与外部电路的重要角色，相当于芯片的接口。然而在芯片制造过程中，如果引脚出现缺失、破损、偏斜或不平整，容易导致后续贴片焊接时出现虚焊、虚接或漏接的问题，进而影响芯片的可靠性。
相关文章
封装性共面性测试仪工作原理
测量仪工作原理：被测工件（置于工作台上）由LED表面光或轮廓光（在底座内）照明后，经变焦距物镜与彩色CCD摄影机罩壳内摄取被测零件影像，再通过S端子传送至计算机及显示器上，软件在显示器上产生的视频十字线为基准，对其进行瞄准测量，通过工作台带动光学尺与在X、Y方向上移动，取空间各点坐标值，由转接卡至计算机，对测量坐标值进行几何运算，完成各种数据量测工作。
封装性共面性测试仪
本仪器采用测量软件，能率的检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状，1、元器件共面性测试、引脚移位检测、引脚高度错误检测、引脚面积测量、直径、角度、不规则面积测量、手轮可调节光栅、非刺眼型光源、高精度XZ轴测距、SPC过程统计如样板、冲压件、凸轮，成形铣刀等各种工具，刀具和零件，以及端子、钟表、金刚石等生产。
应用领域
本仪器采用测量软件，能率的检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状，1、元器件共面性测试、引脚移位检测、引脚高度错误检测、引脚面积测量、直径、角度、不规则面积测量、手轮可调节光栅、非刺眼型光源、高精度XZ轴测距、SPC过程统计如样板、冲压件、凸轮，成形铣刀等各种工具，刀具和零件，以及端子、钟表、金刚石等生产。
当前位置：
产品分类
上一个：
返回列表
